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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 卤素 光源 高亮度 强光灯
2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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2024-01-04
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